武漢大學(xué)科研公共服務(wù)條件平臺(tái)相位差分低損傷成像原位透射電鏡（Spectra 300）已經(jīng)安裝完畢，即日起對(duì)校內(nèi)開(kāi)放試運(yùn)行，歡迎校內(nèi)師生預(yù)約測(cè)試！

一、儀器參數(shù)配置

型號(hào)：Spectra 300

燈絲類(lèi)型：超穩(wěn)定高亮肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍配單色器（X-FEG Mono）

加速電壓：30–300 kV

TEM信息分辨率：60pm@300kV

STEM分辨率：50pm@300kV

相機(jī)：Ceta-S CMOS相機(jī)、Gatan K2相機(jī)

能譜：全對(duì)稱(chēng)固定式Super-X能譜（能量分辨率：136eV (Mn-Kα)）

物鏡極靴間距：5.4mm（滿(mǎn)足三維重構(gòu)桿及各種原位桿的大轉(zhuǎn)動(dòng)角度±70°）

二、應(yīng)用領(lǐng)域

聚光鏡（STEM）和物鏡（TEM）球差雙校正器，可實(shí)現(xiàn)STEM和TEM兩種模式下的超高分辨原子成像。四探頭超級(jí)能譜儀（Super-X），可實(shí)現(xiàn)原子級(jí)成分分析；先進(jìn)的STEM探頭系統(tǒng)支持DPC/iDPC成像系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)輕、重元素在同一幅STEM圖像中清晰成像，并支持在極低束流下對(duì)電子束敏感材料進(jìn)行低損傷高襯度成像。另外，分析型三維重構(gòu)樣品桿和重構(gòu)軟件，提供原子尺度下三維TEM/STEM/EDS分析。廣泛應(yīng)用于孔材料化學(xué)、單原子催化、二維材料、有機(jī)高分子纖維等樣品的表征和結(jié)構(gòu)分析。

三、溫馨提示

1、樣品要求：樣品無(wú)磁性；厚度在50納米以下；樣品要預(yù)先處理表面污染。

2、并非所有樣品都適合球差電鏡并獲得理想的數(shù)據(jù)結(jié)果，建議先在普通透射電鏡上篩選檢查樣品，再與實(shí)驗(yàn)老師探討可行性。

3、目前先開(kāi)放高分辨和原子像拍攝功能（有其他功能需求的用戶(hù)可聯(lián)系實(shí)驗(yàn)老師討論樣品和實(shí)驗(yàn)方案）。

4、送樣請(qǐng)至少提前一周預(yù)約，并說(shuō)明材料類(lèi)型、晶體結(jié)構(gòu)及預(yù)計(jì)結(jié)果等。

預(yù)約請(qǐng)登錄：http://facility.whu.edu.cn

地點(diǎn)：武漢大學(xué)尖端科技樓101H

聯(lián)系人：薛老師 15801273962（微信同號(hào)）